短波紅外相機應用領域介紹
短波紅外相機是一種用于拍攝短波紅外光譜范圍內的相機。短波紅外光譜范圍通常在1微米到3微米之間。短波紅外相機能夠捕捉到人眼無法看到的紅外輻射,因此在很多領域有廣泛的應用。
1半導體晶圓檢測
晶圓是一種薄的半導體材料基材,用于制造電子集成電路。半導體材料種類多樣,其中最常用的一種半導體材料是硅(Si)。
晶圓在生產過程中會產生各種缺陷,比如在各環節累積的殘余應力會使得晶圓內部產生裂紋。如果未能在后續IC制造環節之前把這些缺陷檢測出來,就會影響最終成品IC芯片的良率,推高制造成本。利用短波紅外光能穿透硅片的特性,使用短波紅外相機就能檢測到硅片內部的缺陷,防止不良晶圓流入后續環節,大大降低制造成本。
2物品分選
短波紅外波段對應分子鍵振動的合頻和倍頻,通過檢測物品對不同波長的短波紅外光的吸收情況,就能分析出物品的種類和缺陷等信息。因此,短波紅外相機也被廣泛用于谷物、茶葉、塑料等的分揀。
3短波紅外測溫
對于幾百度以上的高溫目標,短波紅外測溫相對于目前常用的非制冷長波紅外測溫具有測溫穩定、精度高、響應速度快等優勢。使用短波線掃相機,對于傳送帶上快速移動的物體進行成像和測溫,可以極大地消除拖尾效應的影響,得到畫質清晰、測溫準確的短波紅外圖像。
4光伏板隱裂檢測
在晶體硅太陽電池的生產過程中,會產生隱裂、劃傷等缺陷,這些缺陷限制了電池的光電轉換效率和使用壽命,然而這些缺陷大部分是難以通過肉眼或可見光成像等手段檢測出來。利用硅太陽能電池具有的電致發光(EL)和光致發光(PL)特性,可以通過外加正向偏壓或激光照射激發的方式,使太陽能電池片自身發出短波紅外光。而缺陷區域的發出的光相對于正常區域會有明顯的差別,通過短波紅外相機對激發狀態下的太陽能電池片進行檢測,就能有效地檢測出其內部缺陷。